講解直流高壓發(fā)生器的3種測量方法

直流高壓發(fā)生器測量時需要生涯至所需電壓或電流進一步推進，對一般試品主要抓手、大容性試品以及小電容試品的測量方法均有所不同說服力，以下是總結(jié)的3種測量方法足夠的實力。

1精準調控、一般測量時當接好線后道路，先把聯(lián)接試品的線懸空，升到試驗電壓后讀取空試時的電暈和雜散電流I相互配合，然后接上試品升到試驗電壓讀取總電流Ⅰ1慢體驗；試品泄漏電流：Io =Ⅰ1—I’

2、當需要精確測量被試品泄漏電流時智能化，則應(yīng)在高壓側(cè)串入高壓微安表科技實力，如圖1

圖1  高壓屏蔽微安表接入試品Cx側(cè)接線圖

高壓屏蔽微安表必須有金屬屏蔽，應(yīng)采用屏蔽線與試品聯(lián)接建設。高壓引線的屏蔽引出應(yīng)與儀表端的屏蔽緊密聯(lián)接在此基礎上。如果試品表面污穢要排除試品表面泄漏電流的影響可在試品高電位端用裸金屬軟線緊密繞幾圈后與高壓引線的屏蔽相聯(lián)接，見圖2前來體驗。

圖2   排除試品Cx表面影響接線圖

3自主研發、對氧化鋅、磁吹避雷器等試品接地端可拆開的情況下更加廣闊，也可采用在試品的底部（地電位側(cè)）損耗，串入電流表進行測量的方式相貫通。 但也必須使用屏蔽線，如圖3積極影響。

圖3     微安表接入試品Cx底部的接線圖

當要排除試品表面泄漏電流的影響，可用軟的裸銅線在試品地電位端繞上幾圈并與屏蔽線的屏蔽相聯(lián)接緊密協作，如圖4

圖4     排除試品Cx表面影響接線圖

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